• Inglés
  • Español
  • Francés
  • Alemán
  • Portugués
  • Italiano
  • Ruso
  • Chino (Simplificado)
  • Chino (Tradicional)
  • Japonés
  • Coreano
  • Holandés
  • Sueco
  • Persa
  • Árabe
  • Polaco
  • Inicio
  • Descubrir
  • Artículos
  • Iniciar sesión
  • Registrarse
  • Inglés
  • Español
  • Francés
  • Alemán
  • Portugués
  • Italiano
  • Ruso
  • Chino (Simplificado)
  • Chino (Tradicional)
  • Japonés
  • Coreano
  • Holandés
  • Sueco
  • Persa
  • Árabe
  • Polaco
Escáner de código de barras ISBN
Añade libros en segundos con el escaneo de código de barras.

Solo escanea un ISBN para añadirlo instantáneamente a tu biblioteca. Disponible ahora en iOS y Android.

App Store Google Play
Sheldon X.-D. Tan

Sheldon X.-D. Tan

Resumen Libros
Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems: Methods and Applications

Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems: Methods and Applications

Esteban Tlelo-Cuautle

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Ruijing Shen

Sigue tu trayectoria de lectura, descubre nuevos libros y alcanza tus metas de lectura con BookPine.

App Store Google Play
Descubrir
  • Descubrir
Cuenta
  • Iniciar sesión
  • Registrarse
Soporte
  • Preguntas frecuentes
  • Solicitudes de características
  • Contacto
Términos
  • Términos del servicio
  • Política de privacidad
  • Política de cookies
  • Gestionar cookies

Derechos de autor © 2026 BookPine. Todos los derechos reservados.

Enviar comentarios

Usamos cookies para mejorar tu experiencia y analizar el tráfico del sitio. Puedes elegir qué cookies aceptar.

Esencial

Necesario para el funcionamiento del sitio web. No se puede deshabilitar.

Analíticas

Ayúdanos a entender cómo interactúan los visitantes con nuestro sitio web.

Marketing

Se utiliza para entregar anuncios relevantes y rastrear campañas.