Recenzje
Nie ma jeszcze recenzji
Bądź pierwszy, aby zrecenzować tę książkę i podziel się swoimi przemyśleniami
Zaloguj się, aby recenzować
Pattern Recognition and Data Mining: Third International Conference on Advances in Pattern Recognition (ICAR 2005), Bath, UK, August 22-25, 2005, Part I
Brak ocen
2005
·
Angielski
·
Miękka okładka