Recenzje
Nie ma jeszcze recenzji
Bądź pierwszy, aby zrecenzować tę książkę i podziel się swoimi przemyśleniami
Zaloguj się, aby recenzować
Pattern Recognition and Machine Learning: Proceedings of the Japan-U.S. Seminar on the Learning Process in Control Systems, held in Nagoya, Japan August 18-20, 1970
Brak ocen
2012
·
Angielski
·
Miękka okładka