Materials and Process Characterization for VLSI: Proceedings of the International Conference (ICMPC '88)

Materials and Process Characterization for VLSI: Proceedings of the International Conference (ICMPC '88)

Jie Chen , Y.-Y. Wang
Оценок пока нет
Jan 1, 1988 · Английский · Твердый переплет (552 страницы)
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг

Обзоры

Отзывов пока нет

Станьте первым, кто оставит отзыв о этой книге и поделится своими мыслями

Войдите, чтобы оставить отзыв
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг