فقط یک ISBN را اسکن کنید تا بلافاصله به کتابخانه شما اضافه شود. هم اکنون در دسترس برای iOS و Android.
Semiconductor measurement technology : techniques for measuring the integrity of passivation overcoats on integrated circuits Werner Kern and Robert B. Comizzoli ; RCA Laboratories. [Leather Bound]