Semiconductor measurement technology : techniques for measuring the integrity of passivation overcoats on integrated circuits Werner Kern and Robert B. Comizzoli ; RCA Laboratories. [Leather Bound]

Semiconductor measurement technology : techniques for measuring the integrity of passivation overcoats on integrated circuits Werner Kern and Robert B. Comizzoli ; RCA Laboratories. [Leather Bound]

Оценок пока нет
2018 · Английский · Мягкая обложка
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг

Обзоры

Отзывов пока нет

Станьте первым, кто оставит отзыв об этой книге и поделится своими мыслями

Войдите, чтобы оставить отзыв
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг