Local Pattern Detection: International Seminar Dagstuhl Castle, Germany, April 12-16, 2004, Revised Selected Papers

Local Pattern Detection: International Seminar Dagstuhl Castle, Germany, April 12-16, 2004, Revised Selected Papers

まだ評価がありません
2005 · 英語 · ペーパーバック · 2 版
棚に追加

この本を評価する


ブックジャーナルをエクスポート

説明

At the heart of this collection lies a significant exploration of pattern detection, shaped by insightful discussions from an international seminar held in the picturesque Dagstuhl Castle. With contributions from leading experts, this work delves into the advancements made possible by the exponential growth of computer storage capabilities over the past decade.

Readers will find a rich tapestry of revised papers that highlight innovative methodologies and applications in local pattern detection. Each piece reflects not only the progress made in this field but also the collaborative spirit that drives continual improvement and exploration in the realm of data analysis.

本の詳細

形式 ペーパーバック
ページ数 244ページ
言語 英語
公開されました Jul 14, 2005
出版社 Springer
ISBN-10 3540265430
ISBN-13 9783540265436

ジャンル

棚に追加

この本を評価する


ブックジャーナルをエクスポート