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David G. Seiler

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Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics

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Zhiyong Ma

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2011

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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2009

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Characterization and Metrology for Nanoelectronics (2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology)

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Life on Hold: Finding Hope in the Face of Serious Illness

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Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005

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Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference

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Semiconductors and Semimetals, Volume 36: The Spectroscopy of Semiconductors

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