• انگلیسی
  • اسپانیایی
  • فرانسوی
  • آلمانی
  • پرتغالی
  • ایتالیایی
  • روسی
  • چینی (ساده شده)
  • چینی (سنتی)
  • ژاپنی
  • کره‌ای
  • هلندی
  • سوئدی
  • فارسی
  • عربی
  • لهستانی
  • خانه
  • کشف کردن
  • مقالات
  • ورود
  • ثبت نام
  • انگلیسی
  • اسپانیایی
  • فرانسوی
  • آلمانی
  • پرتغالی
  • ایتالیایی
  • روسی
  • چینی (ساده شده)
  • چینی (سنتی)
  • ژاپنی
  • کره‌ای
  • هلندی
  • سوئدی
  • فارسی
  • عربی
  • لهستانی
اسکنر بارکد ISBN
کتاب‌ها را در چند ثانیه با اسکن بارکد اضافه کنید.

فقط یک ISBN را اسکن کنید تا بلافاصله به کتابخانه شما اضافه شود. هم اکنون در دسترس برای iOS و Android.

فروشگاه اپ گوگل پلی
David G. Seiler

David G. Seiler

بررسی اجمالی کتاب‌ها
Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics

Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics

Zhiyong Ma

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2011

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2011

David G. Seiler

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2009

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2009

David G. Seiler

Characterization and Metrology for Nanoelectronics (2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology)

Characterization and Metrology for Nanoelectronics (2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology)

David G. Seiler

Life on Hold: Finding Hope in the Face of Serious Illness

Life on Hold: Finding Hope in the Face of Serious Illness

David G. Seiler

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005

David G. Seiler

Characterization and Metrology for ULSI Technology (2003 International Conference)

Characterization and Metrology for ULSI Technology (2003 International Conference)

David G. Seiler

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference

David G. Seiler

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Sidney Perkowitz

Semiconductors and Semimetals, Volume 36: The Spectroscopy of Semiconductors

Semiconductors and Semimetals, Volume 36: The Spectroscopy of Semiconductors

Robert K. Willardson

Two-Photon Absorption Characterization

Two-Photon Absorption Characterization

David G. Seiler

Hot electrons in semiconductors: Proceedings of the International Conference on Hot Electrons in Semiconductors held in Denton, Texas, 6-8 July 1977

Hot electrons in semiconductors: Proceedings of the International Conference on Hot Electrons in Semiconductors held in Denton, Texas, 6-8 July 1977

David G. Seiler

By David G. Seiler - Life on Hold: Finding Hope in the Face of Serious Illness (2006-06-16) [Paperback]

By David G. Seiler - Life on Hold: Finding Hope in the Face of Serious Illness (2006-06-16) [Paperback]

David G. Seiler

مسیر خواندن خود را دنبال کنید، کتاب‌های جدید کشف کنید و با BookPine به اهداف خواندن خود برسید.

فروشگاه اپ گوگل پلی
کشف کردن
  • کشف کردن
حساب
  • ورود
  • ثبت نام
پشتیبانی
  • سوالات متداول
  • درخواست‌های ویژگی
  • تماس
شرایط
  • شرایط خدمات
  • سیاست حفظ حریم خصوصی
  • سیاست کوکی
  • مدیریت کوکی‌ها

حق نشر © 2026 BookPine. تمام حقوق محفوظ است.

ارسال بازخورد

ما از کوکی‌ها برای بهبود تجربه شما و تجزیه و تحلیل ترافیک سایت استفاده می‌کنیم. شما می‌توانید انتخاب کنید کدام کوکی‌ها را بپذیرید.

ضروری

برای کارکرد وب‌سایت لازم است. نمی‌توان غیرفعال کرد.

تجزیه و تحلیل

به ما کمک کنید تا درک کنیم بازدیدکنندگان چگونه با وب‌سایت ما تعامل دارند.

بازاریابی

برای ارائه تبلیغات مرتبط و ردیابی کمپین‌ها استفاده می‌شود.