Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

هنوز رتبه‌بندی نشده است
1994 · انگلیسی · جلد نرم
به قفسه اضافه کنید

به این کتاب امتیاز دهید


صدور دفتر کتاب

توضیحات

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.

جزئیات کتاب

فرمت جلد نرم
صفحات 34 صفحه
زبان انگلیسی
منتشر شده Jun 1, 1994
ناشر Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394
به قفسه اضافه کنید

به این کتاب امتیاز دهید


صدور دفتر کتاب