Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Оценок пока нет
1994 · Английский · Мягкая обложка
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг

Описание

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.

Детали книги

Формат Мягкая обложка
Страницы 34 страниц
Язык Английский
Опубликовано Jun 1, 1994
Издатель Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг