Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Оценок пока нет
Jun 1, 1994 · Английский · Мягкая обложка (34 страницы)
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг

Детали книги

Формат Мягкая обложка
Страницы 34
Язык Английский
Опубликовано Jun 1, 1994
Издатель Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394

Описание

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг