Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

لا توجد تقييمات بعد
1994 · الإنجليزية · غلاف ورقي
أضف إلى الرف

قيم هذا الكتاب


تصدير مجلة الكتاب

الوصف

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.

تفاصيل الكتاب

تنسيق غلاف ورقي
صفحات 34 صفحات
لغة الإنجليزية
منشور Jun 1, 1994
الناشر Diane Pub Co
رقم ISBN-10 0788115391
رقم ISBN-13 9780788115394
أضف إلى الرف

قيم هذا الكتاب


تصدير مجلة الكتاب