Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Brak ocen
Jun 1, 1994 · Angielski · Miękka okładka (34 strony)
Dodaj do półki

Oceń tę książkę


Eksportuj Dziennik Książki

Szczegóły książki

Format Miękka okładka
Strony 34
Język Angielski
Opublikowany Jun 1, 1994
Wydawca Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394

Opis

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.
Dodaj do półki

Oceń tę książkę


Eksportuj Dziennik Książki