Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Brak ocen
1994 · Angielski · Miękka okładka
Dodaj do półki

Oceń tę książkę


Eksportuj Dziennik Książki

Opis

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.

Szczegóły książki

Format Miękka okładka
Strony 34 stron
Język Angielski
Opublikowany Jun 1, 1994
Wydawca Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394
Dodaj do półki

Oceń tę książkę


Eksportuj Dziennik Książki