Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

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Jun 1, 1994 · Inglés · Tapa blanda (34 páginas)
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Detalles del libro

Formato Tapa blanda
Páginas 34
Idioma Inglés
Publicado Jun 1, 1994
Editorial Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394

Descripción

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.
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