Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Aún sin calificaciones
1994 · Inglés · Tapa blanda
Añadir a la estantería

Califica este libro


Exportar diario de lectura

Descripción

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.

Detalles del libro

Formato Tapa blanda
Páginas 34 páginas
Idioma Inglés
Publicado Jun 1, 1994
Editorial Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394
Añadir a la estantería

Califica este libro


Exportar diario de lectura