Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

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1994 · 英語 · ペーパーバック
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説明

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.

本の詳細

形式 ペーパーバック
ページ数 34ページ
言語 英語
公開されました Jun 1, 1994
出版社 Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394
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