Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

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1994 · Inglês · Brochura
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Descrição

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.

Detalhes do Livro

Formato Brochura
Páginas 34 páginas
Idioma Inglês
Publicado Jun 1, 1994
Editora Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394
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