Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Inga betyg ännu
1994 · Engelska · Pocketbok
Lägg till på hyllan

Betygsätt denna bok


Exportera bokjournal

Beskrivning

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.

Bokdetaljer

Format Pocketbok
Sidor 34 sidor
Språk Engelska
Publicerad Jun 1, 1994
Förlag Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394
Lägg till på hyllan

Betygsätt denna bok


Exportera bokjournal