Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Optical Characterization in Microelectronics Manufacturing

Nog geen beoordelingen
1994 · Engels · Paperback
Toevoegen aan Plank

Beoordeel dit boek


Boekjournaal exporteren

Beschrijving

Covers ellipsometry, infrared spectroscopy, optical microscopy, modulation spectroscopy, photoluminescence & raman scattering. Bibliography.

Boekdetails

Formaat Paperback
Pagina's 34 pagina's
Taal Engels
Gepubliceerd Jun 1, 1994
Uitgever Diane Pub Co
ISBN-10 0788115391
ISBN-13 9780788115394
Toevoegen aan Plank

Beoordeel dit boek


Boekjournaal exporteren