Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Ruijing Shen , Sheldon X.-D. Tan , Hao Yu
لا توجد تقييمات بعد
Apr 13, 2014 · الإنجليزية · غلاف ورقي (336 صفحات)
أضف إلى الرف

قيم هذا الكتاب


تصدير مجلة الكتاب

المراجعات

لا توجد مراجعات بعد

كن أول من يراجع هذا الكتاب وشارك أفكارك

تسجيل الدخول للمراجعة
أضف إلى الرف

قيم هذا الكتاب


تصدير مجلة الكتاب