Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Ruijing Shen , Sheldon X.-D. Tan , Hao Yu
Оценок пока нет
Apr 13, 2014 · Английский · Мягкая обложка (336 страницы)
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг

Обзоры

Отзывов пока нет

Станьте первым, кто оставит отзыв о этой книге и поделится своими мыслями

Войдите, чтобы оставить отзыв
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг