Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Ruijing Shen , Sheldon X.-D. Tan , Hao Yu
Inga betyg ännu
Apr 13, 2014 · Engelska · Pocketbok (336 sidor)
Lägg till på hyllan

Betygsätt denna bok


Exportera bokjournal

Recensioner

Inga recensioner ännu

Bli den första att recensera denna bok och dela dina tankar

Logga in för att recensera
Lägg till på hyllan

Betygsätt denna bok


Exportera bokjournal