Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Ruijing Shen , Sheldon X.-D. Tan , Hao Yu
Noch keine Bewertungen
Apr 13, 2014 · Englisch · Taschenbuch (336 Seiten)
Zum Regal hinzufügen

Bewerte dieses Buch


Buchjournal exportieren

Rezensionen

Noch keine Rezensionen

Sei der Erste, der dieses Buch rezensiert und deine Gedanken teilt

Anmelden um zu rezensieren
Zum Regal hinzufügen

Bewerte dieses Buch


Buchjournal exportieren