Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Nog geen beoordelingen
Science & Technology
Formaat Kindle
Pagina's 342
Taal Engels
Gepubliceerd Jan 1, 2015
Uitgever World Scientific
Editie 2
ISBN-10 9814630373
ISBN-13 9789814630375
Wil lezen

Beoordeel dit boek

Boekjournaal exporteren

Beschrijving

This engaging work delves into the foundational concepts of atomic force microscopy (AFM), a crucial tool in the realm of nanoscience. The author, Ronald G. Reifenberger, meticulously unpacks the principles that underpin the operation and application of AFM, making complex topics accessible to readers with varying levels of expertise. Emphasizing the interdisciplinary nature of the AFM, the narrative bridges across physics, materials science, and engineering, illustrating how this innovative instrument has revolutionized the study of surfaces and materials at the nanoscale.

Throughout the chapters, readers are introduced to the operational mechanics of AFM, including its key components and measurement techniques. Beyond the technical details, Reifenberger emphasizes the practical implications of AFM in research and technology. Through clear explanations and insightful illustrations, the foundations of this advanced microscopy technique are laid bare, inviting both novices and experts alike to deepen their understanding of its significance in modern science.

Recensies

Nog geen beoordelingen

Wees de eerste om dit boek te recenseren en deel je gedachten

Voeg Eerste Recensie Toe

Leeslogboek

Geen leeslogboeken gevonden

Begin met het volgen van je leesvoortgang om logboeken hier te zien

Voeg je eerste leeslogboek toe

Notities

Geen notities gevonden

Begin met het toevoegen van notities om ze hier te zien

Voeg je eerste notitie toe

Transactielogboek

Geen transactielogboeken gevonden

Begin met het volgen van je boektransacties om logboeken hier te zien

Voeg je eerste transactielogboek toe

Vergelijkbare boeken