Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Inga betyg ännu
Science & Technology
Format Kindle
Sidor 342
Språk Engelska
Publicerad Jan 1, 2015
Förlag World Scientific
Utgåva 2
ISBN-10 9814630373
ISBN-13 9789814630375
Vill läsa

Betygsätt denna bok

Exportera bokjournal

Beskrivning

This engaging work delves into the foundational concepts of atomic force microscopy (AFM), a crucial tool in the realm of nanoscience. The author, Ronald G. Reifenberger, meticulously unpacks the principles that underpin the operation and application of AFM, making complex topics accessible to readers with varying levels of expertise. Emphasizing the interdisciplinary nature of the AFM, the narrative bridges across physics, materials science, and engineering, illustrating how this innovative instrument has revolutionized the study of surfaces and materials at the nanoscale.

Throughout the chapters, readers are introduced to the operational mechanics of AFM, including its key components and measurement techniques. Beyond the technical details, Reifenberger emphasizes the practical implications of AFM in research and technology. Through clear explanations and insightful illustrations, the foundations of this advanced microscopy technique are laid bare, inviting both novices and experts alike to deepen their understanding of its significance in modern science.

Recensioner

Inga recensioner ännu

Bli den första att recensera denna bok och dela dina tankar

Lägg till första recensionen

Läsdagbok

Inga läsloggar hittades

Börja spåra dina läsframsteg för att se loggar här

Lägg till din första läslogg

Anteckningar

Inga anteckningar hittades

Börja skriva anteckningar för att se dem här

Lägg till din första anteckning

Transaktionslogg

Inga transaktionsloggar hittades

Börja spåra dina boktransaktioner för att se loggar här

Lägg till din första transaktionslogg

Liknande böcker