Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Оценок пока нет
Science & Technology
Формат Kindle
Страницы 342
Язык Английский
Опубликовано Jan 1, 2015
Издатель World Scientific
Издание 2
ISBN-10 9814630373
ISBN-13 9789814630375
Хочу прочитать

Оценить эту книгу

Экспортировать журнал книг

Описание

This engaging work delves into the foundational concepts of atomic force microscopy (AFM), a crucial tool in the realm of nanoscience. The author, Ronald G. Reifenberger, meticulously unpacks the principles that underpin the operation and application of AFM, making complex topics accessible to readers with varying levels of expertise. Emphasizing the interdisciplinary nature of the AFM, the narrative bridges across physics, materials science, and engineering, illustrating how this innovative instrument has revolutionized the study of surfaces and materials at the nanoscale.

Throughout the chapters, readers are introduced to the operational mechanics of AFM, including its key components and measurement techniques. Beyond the technical details, Reifenberger emphasizes the practical implications of AFM in research and technology. Through clear explanations and insightful illustrations, the foundations of this advanced microscopy technique are laid bare, inviting both novices and experts alike to deepen their understanding of its significance in modern science.

Обзоры

Отзывов пока нет

Станьте первым, кто оставит отзыв о этой книге и поделится своими мыслями

Добавить первый отзыв

Журнал чтения

Журналы чтения не найдены

Начните отслеживать ваш прогресс в чтении, чтобы видеть записи здесь

Добавьте ваш первый журнал чтения

Заметки

Заметки не найдены

Начните добавлять заметки, чтобы видеть их здесь

Добавьте вашу первую заметку

Журнал транзакций

Журналы транзакций не найдены

Начните отслеживать ваши книжные транзакции, чтобы видеть записи здесь

Добавьте ваш первый журнал транзакций

Похожие книги