• Angielski
  • Hiszpański
  • Francuski
  • Niemiecki
  • Portugalski
  • Włoski
  • Rosyjski
  • Chiński (uproszczony)
  • Chiński (Tradycyjny)
  • Japoński
  • Koreański
  • Holenderski
  • Szwedzki
  • Perski
  • Arabski
  • Polski
  • Strona główna
  • Odkryj
  • Artykuły
  • Zaloguj się
  • Zarejestruj się
  • Angielski
  • Hiszpański
  • Francuski
  • Niemiecki
  • Portugalski
  • Włoski
  • Rosyjski
  • Chiński (uproszczony)
  • Chiński (Tradycyjny)
  • Japoński
  • Koreański
  • Holenderski
  • Szwedzki
  • Perski
  • Arabski
  • Polski
Skaner kodów kreskowych ISBN
Dodaj książki w kilka sekund dzięki skanowaniu kodów kreskowych.

Wystarczy zeskanować ISBN, aby natychmiast dodać książkę do swojej biblioteki. Dostępne na iOS i Android.

App Store Google Play
Niraj K. Jha

Niraj K. Jha

Przegląd Książki
Nanoelectronic Circuit Design

Nanoelectronic Circuit Design

Niraj K. Jha

Testing of Digital Systems

Testing of Digital Systems

Niraj K. Jha

High-Level Power Analysis and Optimization

High-Level Power Analysis and Optimization

Anand Raghunathan

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Niraj K. Jha

Research Methodology

Research Methodology

Niraj K. Jha

Switching Finite Auto Theory

Switching Finite Auto Theory

Zvi Kohavi

Switching and Finite Automata Theory

Switching and Finite Automata Theory

Zvi Kohavi

Switching Finite Auto Theory 3ed

Switching Finite Auto Theory 3ed

Zvi Kohavi

Embedded and Ubiquitous Computing: International Conference EUC 2004, Aizu-Wakamatsu City, Japan, August 25-27, 2004, Proceedings

Embedded and Ubiquitous Computing: International Conference EUC 2004, Aizu-Wakamatsu City, Japan, August 25-27, 2004, Proceedings

Laurence T. Yang

Fault Tolerant Parallel Computing in Orthogonal Shared-Memory and Related Architectures

Fault Tolerant Parallel Computing in Orthogonal Shared-Memory and Related Architectures

Niraj K. Jha

[(Testing and Reliable Design of CMOS Circuits * * )] [Author: N. K. Jha] [Feb-1990]

[(Testing and Reliable Design of CMOS Circuits * * )] [Author: N. K. Jha] [Feb-1990]

Niraj K. Jha

Testing of Digital Systems by Jha, N. K., Gupta, S. (2003) Hardcover

Testing of Digital Systems by Jha, N. K., Gupta, S. (2003) Hardcover

Niraj K. Jha

Śledź swoją podróż czytelniczą, odkrywaj nowe książki i osiągaj swoje cele czytelnicze z BookPine.

App Store Google Play
Odkryj
  • Odkryj
Konto
  • Zaloguj się
  • Zarejestruj się
Wsparcie
  • FAQ
  • Prośby o funkcje
  • Kontakt
Warunki
  • Warunki korzystania z usługi
  • Polityka prywatności
  • Polityka cookies
  • Zarządzaj ciasteczkami

Prawa autorskie © 2026 BookPine. Wszelkie prawa zastrzeżone.

Wyślij opinię

Używamy ciasteczek, aby poprawić Twoje doświadczenia i analizować ruch na stronie. Możesz wybrać, które ciasteczka zaakceptować.

Niezbędne

Niezbędne do funkcjonowania strony. Nie można wyłączyć.

Analityka

Pomóż nam zrozumieć, jak odwiedzający wchodzą w interakcje z naszą stroną.

Marketing

Używane do dostarczania odpowiednich reklam i śledzenia kampanii.