• Английский
  • Испанский
  • Французский
  • Немецкий
  • Португальский
  • Итальянский
  • Русский
  • Китайский (упрощенный)
  • Китайский (традиционный)
  • Японский
  • Корейский
  • Голландский
  • Шведский
  • Персидский
  • Арабский
  • Польский
  • Домой
  • Обнаружить
  • Статьи
  • Войти
  • Зарегистрироваться
  • Английский
  • Испанский
  • Французский
  • Немецкий
  • Португальский
  • Итальянский
  • Русский
  • Китайский (упрощенный)
  • Китайский (традиционный)
  • Японский
  • Корейский
  • Голландский
  • Шведский
  • Персидский
  • Арабский
  • Польский
Сканер штрих-кода ISBN
Добавляйте книги за секунды с помощью сканирования штрих-кода.

Просто отсканируйте ISBN, чтобы мгновенно добавить его в вашу библиотеку. Доступно сейчас на iOS и Android.

App Store Google Play
Niraj K. Jha

Niraj K. Jha

Обзор Книги
Nanoelectronic Circuit Design

Nanoelectronic Circuit Design

Niraj K. Jha

Testing of Digital Systems

Testing of Digital Systems

Niraj K. Jha

High-Level Power Analysis and Optimization

High-Level Power Analysis and Optimization

Anand Raghunathan

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Niraj K. Jha

Research Methodology

Research Methodology

Niraj K. Jha

Switching Finite Auto Theory

Switching Finite Auto Theory

Zvi Kohavi

Switching and Finite Automata Theory

Switching and Finite Automata Theory

Niraj K. Jha

Switching Finite Auto Theory 3ed

Switching Finite Auto Theory 3ed

Zvi Kohavi

Embedded and Ubiquitous Computing: International Conference EUC 2004, Aizu-Wakamatsu City, Japan, August 25-27, 2004, Proceedings

Embedded and Ubiquitous Computing: International Conference EUC 2004, Aizu-Wakamatsu City, Japan, August 25-27, 2004, Proceedings

Laurence T. Yang

Fault Tolerant Parallel Computing in Orthogonal Shared-Memory and Related Architectures

Fault Tolerant Parallel Computing in Orthogonal Shared-Memory and Related Architectures

Niraj K. Jha

[(Testing and Reliable Design of CMOS Circuits * * )] [Author: N. K. Jha] [Feb-1990]

[(Testing and Reliable Design of CMOS Circuits * * )] [Author: N. K. Jha] [Feb-1990]

Niraj K. Jha

Testing of Digital Systems by Jha, N. K., Gupta, S. (2003) Hardcover

Testing of Digital Systems by Jha, N. K., Gupta, S. (2003) Hardcover

Niraj K. Jha

Отслеживайте ваше чтение, открывайте новые книги и достигайте целей в чтении с помощью BookPine.

App Store Google Play
Обнаружить
  • Обнаружить
Аккаунт
  • Войти
  • Зарегистрироваться
Поддержка
  • Часто задаваемые вопросы
  • Запросы на функции
  • Контакт
Условия
  • Условия обслуживания
  • Политика конфиденциальности
  • Политика использования файлов cookie
  • Управление куки

Авторское право © 2026 BookPine. Все права защищены.

Отправить отзыв

Мы используем куки для улучшения вашего опыта и анализа трафика сайта. Вы можете выбрать, какие куки принимать.

Необходимые

Необходимы для функционирования сайта. Отключение невозможно.

Аналитика

Помогите нам понять, как посетители взаимодействуют с нашим сайтом.

Маркетинг

Используется для показа релевантной рекламы и отслеживания кампаний.