• Engelska
  • Spanska
  • Franska
  • Tyska
  • Portugisiska
  • Italienska
  • Ryska
  • Förenklad kinesiska
  • Kinesiska (traditionell)
  • Japanska
  • Koreanska
  • Holländska
  • Svenska
  • Persiska
  • Arabiska
  • Polska
  • Hem
  • Upptäck
  • Artiklar
  • Logga in
  • Registrera dig
  • Engelska
  • Spanska
  • Franska
  • Tyska
  • Portugisiska
  • Italienska
  • Ryska
  • Förenklad kinesiska
  • Kinesiska (traditionell)
  • Japanska
  • Koreanska
  • Holländska
  • Svenska
  • Persiska
  • Arabiska
  • Polska
ISBN streckkodsläsare
Lägg till böcker på sekunder med streckkodsskanning.

Skanna bara en ISBN för att omedelbart lägga till den i ditt bibliotek. Tillgängligt nu på iOS och Android.

App Store Google Play
Niraj K. Jha

Niraj K. Jha

Översikt Böcker
Nanoelectronic Circuit Design

Nanoelectronic Circuit Design

Niraj K. Jha

Testing of Digital Systems

Testing of Digital Systems

Niraj K. Jha

High-Level Power Analysis and Optimization

High-Level Power Analysis and Optimization

Anand Raghunathan

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Niraj K. Jha

Research Methodology

Research Methodology

Niraj K. Jha

Switching Finite Auto Theory

Switching Finite Auto Theory

Zvi Kohavi

Switching and Finite Automata Theory

Switching and Finite Automata Theory

Niraj K. Jha

Switching Finite Auto Theory 3ed

Switching Finite Auto Theory 3ed

Zvi Kohavi

Embedded and Ubiquitous Computing: International Conference EUC 2004, Aizu-Wakamatsu City, Japan, August 25-27, 2004, Proceedings

Embedded and Ubiquitous Computing: International Conference EUC 2004, Aizu-Wakamatsu City, Japan, August 25-27, 2004, Proceedings

Laurence T. Yang

Fault Tolerant Parallel Computing in Orthogonal Shared-Memory and Related Architectures

Fault Tolerant Parallel Computing in Orthogonal Shared-Memory and Related Architectures

Niraj K. Jha

Testing of Digital Systems

Testing of Digital Systems

Niraj K. Jha

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

Niraj K. Jha

Följ din läsresa, upptäck nya böcker och uppnå dina läsmål med BookPine.

App Store Google Play
Upptäck
  • Upptäck
Konto
  • Logga in
  • Registrera dig
Support
  • FAQ
  • Funktionsförfrågningar
  • Kontakt
Villkor
  • Användarvillkor
  • Integritetspolicy
  • Cookiepolicy
  • Hantera cookies

Upphovsrätt © 2026 BookPine. Alla rättigheter förbehållna.

Skicka återkoppling

Vi använder cookies för att förbättra din upplevelse och analysera webbplatstrafik. Du kan välja vilka cookies du accepterar.

Nödvändiga

Nödvändiga för att webbplatsen ska fungera. Kan inte inaktiveras.

Analys

Hjälp oss förstå hur besökare interagerar med vår webbplats.

Marknadsföring

Används för att leverera relevanta annonser och spåra kampanjer.