Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products

Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products

Nancy Bowen , Hilal Nidal
Nog geen beoordelingen
Aug 12, 2009 · Engels · Kindle (501 pagina's)
Toevoegen aan Plank

Beoordeel dit boek


Boekjournaal exporteren

Recensies

Nog geen recensies

Wees de eerste om dit boek te recenseren en deel je gedachten

Inloggen om te Beoordelen
Toevoegen aan Plank

Beoordeel dit boek


Boekjournaal exporteren