Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products

Nancy Bowen , Hilal Nidal
Brak ocen
2009 · Angielski · Kindle
Dodaj do półki

Oceń tę książkę


Eksportuj Dziennik Książki

Recenzje

Nie ma jeszcze recenzji

Bądź pierwszy, aby zrecenzować tę książkę i podziel się swoimi przemyśleniami

Zaloguj się, aby recenzować
Dodaj do półki

Oceń tę książkę


Eksportuj Dziennik Książki