Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products

Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products

Nancy Bowen , Hilal Nidal
Оценок пока нет
Aug 12, 2009 · Английский · Kindle (501 страницы)
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг

Обзоры

Отзывов пока нет

Станьте первым, кто оставит отзыв об этой книге и поделится своими мыслями

Войдите, чтобы оставить отзыв
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг