Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products

Nancy Bowen , Hilal Nidal
Inga betyg ännu
2009 · Engelska · Kindle
Lägg till på hyllan

Betygsätt denna bok


Exportera bokjournal

Recensioner

Inga recensioner ännu

Bli den första att recensera denna bok och dela dina tankar

Logga in för att recensera
Lägg till på hyllan

Betygsätt denna bok


Exportera bokjournal