Software Defect and Operational Profile Modeling

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2012 · Inglés · Tapa blanda · 3 ediciones
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Descripción

also THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE , Volume 1

Detalles del libro

Formato Tapa blanda
Páginas 287 páginas
Idioma Inglés
Publicado Oct 12, 2012
Editorial Springer
Ediciones 3 ediciones
ISBN-10 1461375592
ISBN-13 9781461375593
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