Software Defect and Operational Profile Modeling

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2012 · Anglais · Broché · 3 éditions
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Description

also THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE , Volume 1

Détails du livre

Format Broché
Pages 287 pages
Langue Anglais
Publié Oct 12, 2012
Éditeur Springer
Éditions 3 éditions
ISBN-10 1461375592
ISBN-13 9781461375593
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