Software Defect and Operational Profile Modeling

Name: Software Defect and Operational Profile Modeling
ISBN: 9781461375593

Kai-Yuan Cai

Nog geen beoordelingen

2012 · Engels · Paperback · 3 edities

Beoordeel dit boek

Beschrijving

also THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE , Volume 1

Formaat Paperback

Pagina's 287 pagina's

Taal Engels

Gepubliceerd Oct 12, 2012

Uitgever Springer

Edities 3 edities

ISBN-10 1461375592

ISBN-13 9781461375593

Wetenschap & Technologie

Beoordeel dit boek