Software Defect and Operational Profile Modeling

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2012 · Inglês · Brochura · 3 edições
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Descrição

also THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE , Volume 1

Detalhes do Livro

Formato Brochura
Páginas 287 páginas
Idioma Inglês
Publicado Oct 12, 2012
Editora Springer
Edições 3 edições
ISBN-10 1461375592
ISBN-13 9781461375593
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