Software Defect and Operational Profile Modeling

Software Defect and Operational Profile Modeling

Brak ocen
2012 · Angielski · Miękka okładka · Wydania: 3
Dodaj do półki

Oceń tę książkę


Eksportuj Dziennik Książki

Opis

also THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE , Volume 1

Szczegóły książki

Format Miękka okładka
Strony 287 stron
Język Angielski
Opublikowany Oct 12, 2012
Wydawca Springer
Wydania Wydania: 3
ISBN-10 1461375592
ISBN-13 9781461375593
Dodaj do półki

Oceń tę książkę


Eksportuj Dziennik Książki