Software Defect and Operational Profile Modeling

Software Defect and Operational Profile Modeling

Оценок пока нет
2012 · Английский · Мягкая обложка · Изданий: 3
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг

Описание

also THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE , Volume 1

Детали книги

Формат Мягкая обложка
Страницы 287 страниц
Язык Английский
Опубликовано Oct 12, 2012
Издатель Springer
Издания Изданий: 3
ISBN-10 1461375592
ISBN-13 9781461375593
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг