فقط امسح رمز ISBN لإضافته فورًا إلى مكتبتك. متوفر الآن على iOS و Android.
Werner Kern
Ulrich Faigle
Karen A. Reinhardt
John L. Vossen
Dietrich Braun
Hans-Joachim Cantow
نستخدم الكوكيز لتحسين تجربتك وتحليل حركة المرور في الموقع. يمكنك اختيار الكوكيز التي ترغب في قبولها.
مطلوب لتشغيل الموقع. لا يمكن تعطيله.
ساعدنا على فهم كيفية تفاعل الزوار مع موقعنا الإلكتروني.
يُستخدم لتقديم الإعلانات ذات الصلة وتتبع الحملات.
![Semiconductor measurement technology : techniques for measuring the integrity of passivation overcoats on integrated circuits Werner Kern and Robert B. Comizzoli ; RCA Laboratories. [Leather Bound]](https://images.bookpine.com/d6e279ba-5399-4f80-94c8-eab841a643aa.jpg)
