Просто отсканируйте ISBN, чтобы мгновенно добавить его в вашу библиотеку. Доступно сейчас на iOS и Android.
Werner Kern
Ulrich Faigle
Karen A. Reinhardt
John L. Vossen
Dietrich Braun
Hans-Joachim Cantow
Мы используем куки для улучшения вашего опыта и анализа трафика сайта. Вы можете выбрать, какие куки принимать.
Необходимы для функционирования сайта. Отключение невозможно.
Помогите нам понять, как посетители взаимодействуют с нашим сайтом.
Используется для показа релевантной рекламы и отслеживания кампаний.
![Semiconductor measurement technology : techniques for measuring the integrity of passivation overcoats on integrated circuits Werner Kern and Robert B. Comizzoli ; RCA Laboratories. [Leather Bound]](https://images.bookpine.com/d6e279ba-5399-4f80-94c8-eab841a643aa.jpg)
