فقط یک ISBN را اسکن کنید تا بلافاصله به کتابخانه شما اضافه شود. هم اکنون در دسترس برای iOS و Android.
Werner Kern
Hans-Joachim Cantow
Ulrich Faigle
Karen A. Reinhardt
John L. Vossen
ما از کوکیها برای بهبود تجربه شما و تجزیه و تحلیل ترافیک سایت استفاده میکنیم. شما میتوانید انتخاب کنید کدام کوکیها را بپذیرید.
برای کارکرد وبسایت لازم است. نمیتوان غیرفعال کرد.
به ما کمک کنید تا درک کنیم بازدیدکنندگان چگونه با وبسایت ما تعامل دارند.
برای ارائه تبلیغات مرتبط و ردیابی کمپینها استفاده میشود.
![Semiconductor measurement technology : techniques for measuring the integrity of passivation overcoats on integrated circuits Werner Kern and Robert B. Comizzoli ; RCA Laboratories. [Leather Bound]](https://images.bookpine.com/d6e279ba-5399-4f80-94c8-eab841a643aa.jpg)
