Scan gewoon een ISBN om het direct aan je bibliotheek toe te voegen. Nu beschikbaar op iOS en Android.
Werner Kern
Ulrich Faigle
Karen A. Reinhardt
John L. Vossen
Dietrich Braun
Hans-Joachim Cantow
We gebruiken cookies om uw ervaring te verbeteren en siteverkeer te analyseren. U kunt kiezen welke cookies u accepteert.
Noodzakelijk voor de werking van de website. Kan niet worden uitgeschakeld.
Help ons te begrijpen hoe bezoekers interageren met onze website.
Gebruikt om relevante advertenties te leveren en campagnes te volgen.
![Semiconductor measurement technology : techniques for measuring the integrity of passivation overcoats on integrated circuits Werner Kern and Robert B. Comizzoli ; RCA Laboratories. [Leather Bound]](https://images.bookpine.com/d6e279ba-5399-4f80-94c8-eab841a643aa.jpg)
