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Werner Kern
Hans-Joachim Cantow
Ulrich Faigle
Karen A. Reinhardt
John L. Vossen
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![Semiconductor measurement technology : techniques for measuring the integrity of passivation overcoats on integrated circuits Werner Kern and Robert B. Comizzoli ; RCA Laboratories. [Leather Bound]](https://images.bookpine.com/d6e279ba-5399-4f80-94c8-eab841a643aa.jpg)
