Wystarczy zeskanować ISBN, aby natychmiast dodać książkę do swojej biblioteki. Dostępne na iOS i Android.
Werner Kern
Hans-Joachim Cantow
Ulrich Faigle
Karen A. Reinhardt
Dietrich Braun
Używamy ciasteczek, aby poprawić Twoje doświadczenia i analizować ruch na stronie. Możesz wybrać, które ciasteczka zaakceptować.
Niezbędne do funkcjonowania strony. Nie można wyłączyć.
Pomóż nam zrozumieć, jak odwiedzający wchodzą w interakcje z naszą stroną.
Używane do dostarczania odpowiednich reklam i śledzenia kampanii.
![Semiconductor measurement technology : techniques for measuring the integrity of passivation overcoats on integrated circuits Werner Kern and Robert B. Comizzoli ; RCA Laboratories. [Leather Bound]](https://images.bookpine.com/d6e279ba-5399-4f80-94c8-eab841a643aa.jpg)
