Solo escanea un ISBN para añadirlo instantáneamente a tu biblioteca. Disponible ahora en iOS y Android.
Werner Kern
Hans-Joachim Cantow
Ulrich Faigle
Karen A. Reinhardt
Dietrich Braun
Usamos cookies para mejorar tu experiencia y analizar el tráfico del sitio. Puedes elegir qué cookies aceptar.
Necesario para el funcionamiento del sitio web. No se puede deshabilitar.
Ayúdanos a entender cómo interactúan los visitantes con nuestro sitio web.
Se utiliza para entregar anuncios relevantes y rastrear campañas.
![Semiconductor measurement technology : techniques for measuring the integrity of passivation overcoats on integrated circuits Werner Kern and Robert B. Comizzoli ; RCA Laboratories. [Leather Bound]](https://images.bookpine.com/d6e279ba-5399-4f80-94c8-eab841a643aa.jpg)
