Buchdetails
Format
Taschenbuch
Seiten
494
Sprache
Englisch
Veröffentlicht
Mar 6, 2008
Verlag
Wiley
Beschreibung
About the AuthorFrank Buschmann, Siemens AG, Germany Kevlin Henney, Curbralan, Bristol, UK Douglas C. Schmidt, Vanderbilt University, Nashville, Tennessee, USATable of ContentsPatternsArchitectural PatternsDesign PatternsIdiomsPattern SystemsPatterns and Software ArchitectureThe Pattern CommunityWhere Will Patterns Go?NotationsGlossaryReferencesIndex of Patterns