Szczegóły książki
Format
Miękka okładka
Strony
494
Język
Angielski
Opublikowany
Mar 6, 2008
Wydawca
Wiley
Opis
About the AuthorFrank Buschmann, Siemens AG, Germany Kevlin Henney, Curbralan, Bristol, UK Douglas C. Schmidt, Vanderbilt University, Nashville, Tennessee, USATable of ContentsPatternsArchitectural PatternsDesign PatternsIdiomsPattern SystemsPatterns and Software ArchitectureThe Pattern CommunityWhere Will Patterns Go?NotationsGlossaryReferencesIndex of Patterns