Defect analysis in electron microscopy
Noch keine Bewertungen
Jan 1, 1975
·
Englisch
·
Gebundene Ausgabe
(134 Seiten)
Format
Gebundene Ausgabe
Seiten
134
Sprache
Englisch
Veröffentlicht
Jan 1, 1975
Verlag
Wiley : distributed by Halstead Press
ISBN-10
0412137607
ISBN-13
9780412137600