Defect analysis in electron microscopy

Defect analysis in electron microscopy

Оценок пока нет
Jan 1, 1975 · Английский · Твердый переплет (134 страницы)
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг

Детали книги

Формат Твердый переплет
Страницы 134
Язык Английский
Опубликовано Jan 1, 1975
Издатель Wiley : distributed by Halstead Press
ISBN-10 0412137607
ISBN-13 9780412137600
Добавить на полку

Оценить эту книгу


Экспортировать журнал книг