Defect analysis in electron microscopy

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Jan 1, 1975 · Inglese · Copertina rigida (134 pagine)
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Formato Copertina rigida
Pagine 134
Lingua Inglese
Pubblicato Jan 1, 1975
Editore Wiley : distributed by Halstead Press
ISBN-10 0412137607
ISBN-13 9780412137600
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